CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A comparison between SiO2/4H-SiC interface traps on (0001) and (11-20) faces

Halldór Örn Ólafsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Christer Hallin ; Einar Sveinbjörnsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
Materials Science Forum Vol. 457-460 (2004), p. 1305-1308.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-12-05.
CPL Pubid: 23859

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur