CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders

Kjell Jeppson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Bao Jie ; Shirong Huang ; Yong Zhang (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Shuangxi Sun (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Yifeng Fu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system )
29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, Japan, Mar 28-31, 2016 (1071-9032). p. 32-36. (2016)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

The design, fabrication, and use of a hotspot-producing and temperature-sensing test structure for evaluating the thermal properties of carbon nanotubes, graphene and boron nitride for cooling of electronic devices in applications like 3D integrated chip-stacks, power amplifiers and light-emitting diodes is described. The test structure is a simple meander-shaped metal resistor serving both as the hotspot and the temperature thermo-meter. By use of this test structure, the influence of emerging materials like those mentioned above on the temperature of the hotspot has been evaluated with good accuracy).

Nyckelord: test structures, resistance temperature detectors, hotspots, heat spreaders, graphene, boron nitride



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2016-02-11. Senast ändrad 2016-11-25.
CPL Pubid: 231937

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)




Projekt

Denna publikation är ett resultat av följande projekt:


Carbon Based Smart Systems for Wireless Applications (NANO RF) (EC/FP7/318352)