CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Scanning tunnelling microscopy for laterally resolved measurements of magnetoresistance through a point contact

Erik Wahlström (Institutionen för teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik) ; Rimantas Bručas (Institutionen för teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik) ; Maj Hanson (Institutionen för teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik)
Applied Physics Letters Vol. 88 (2006), p. 112509.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-11-06. Senast ändrad 2015-10-22.
CPL Pubid: 23076

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik (2005-2015)

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur