CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Statistical estimation of the propagation constant in multiline calibrations

Kristoffer Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Christian Fager (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
67th ARFTG conference (2006)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-09-29. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 22611

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur