CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Retrieving diffraction information from bright and dark field images of MgO

Anders Thölén (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Yiming Yao (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Final Programme and Proceedings, SCANDEM 2001, June 12-15, Stockholm, 2001 p. 202-203. (2001)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2015-11-06.
CPL Pubid: 225357

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys (1997-2004)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Övrig teknisk materialvetenskap

Chalmers infrastruktur