CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Thickness measurement of small particles in TEM with EELS, CBED and EFTEM

Yiming Yao (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Anders Thölén (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Proceedings of ICEM-15 Durban 2002, 15th International Congress of Electron Microscopy, Durban South Africa, 1-6 September 2002 p. 469-470. (2002)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2015-11-06.
CPL Pubid: 225356

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys (1997-2004)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Övrig teknisk materialvetenskap

Chalmers infrastruktur