CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Quantifying industrial emissions by measuring infrared intensity of solar spectra - the SOF technique

Jerker Samuelsson ; Johan Mellqvist (Institutionen för rymd- och geovetenskap, Optisk fjärranalys)
Solid-State and Organic Lighting, SOLED 2012, Eindhoven, Netherlands, 11-14 November 2012 (2162-2701). (2012)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Optical techniques attract increasing interest and usage for quantifying industrial emissions. The Solar Occultation Flux (SOF) method has been applied in numerous international surveys. Technical aspects and survey findings of general interest are discussed.



Denna post skapades 2015-04-13. Senast ändrad 2015-06-01.
CPL Pubid: 215128

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för rymd- och geovetenskap, Optisk fjärranalys

Ämnesområden

Optik

Chalmers infrastruktur