CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Growth and field dependent dielectric properties of epitaxialNa 0.5 K 0.5 NbO 3 thin films

Xin Wang ; Ulf Helmersson ; Sveinn Olafsson ; Staffan Rudner ; Lars-David Wernlund ; Spartak Gevorgian (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap)
Applied Physics Letters (0003-6951). Vol. 73 (1998), p. 927.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: epitaxy, ferroelectric, capacitor



Denna post skapades 2015-02-11.
CPL Pubid: 212404

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Den kondenserade materiens fysik

Chalmers infrastruktur