CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

0.5 Tbit/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber

Jie Li (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Mathias Westlund (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Henrik Sunnerud (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Bengt-Erik Olsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Magnus Karlsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
Proc. European Conference on Optical Communication (ECOC'03) p. Mo4.6.4. (2003)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2015-01-19. Senast ändrad 2015-01-19.
CPL Pubid: 211006

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur