CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

0.5 Tbit/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber

Jie Li (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Mathias Westlund (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Henrik Sunnerud (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Bengt-Erik Olsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Magnus Karlsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
IEEE Photonics Technology Letters (1041-1135). Vol. 16 (2003), 2, p. 566.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2015-01-19.
CPL Pubid: 210991

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)