CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Single-Flange 2-Port TRL Calibration for Accurate THz S-Parameter Measurements of Waveguide Integrated Circuits

Johanna Hanning (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ; GigaHertz Centrum) ; Jörgen Stenarson ; Klas Yhland ; Peter Sobis ; Tomas Bryllert (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ) ; Jan Stake (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ; GigaHertz Centrum)
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology (2156-342X). Vol. 4 (2014), 5, p. 582-587.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

This paper describes a single flange 2-port measurement setup for S-parameter characterization of waveguide integrated devices. The setup greatly reduces calibration and measurement uncertainty by eliminating vector network analyzer (VNA) extender cable movement and minimizing the effect of waveguide manufacturing tolerances. Change time of standards is also improved, reducing the influence of VNA drift on the uncertainty. A TRL calibration kit has been manufactured and measurements are demonstrated in WR-03 (220–325 GHz).

Nyckelord: S-parameter, Membrane, TRL, waveguide integrated



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2014-08-19. Senast ändrad 2015-07-28.
CPL Pubid: 201589

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)