CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Estimation of mass thickness response of embedded aggregated silica nanospheres from high angle annular dark-field scanning transmission electron micrographs

Matias Nordin (Institutionen för kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi ; SuMo Biomaterials) ; Christoffer Abrahamsson (Institutionen för kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi ; SuMo Biomaterials) ; Charlotte Hamngren Blomqvist (Institutionen för teknisk fysik, Eva Olsson Group ; SuMo Biomaterials) ; Henrike Häbel (Institutionen för matematiska vetenskaper, matematisk statistik ; SuMo Biomaterials) ; Magnus Röding (Institutionen för matematiska vetenskaper, matematisk statistik ; SuMo Biomaterials) ; Eva Olsson (Institutionen för teknisk fysik, Eva Olsson Group ) ; Magnus Nydén ; Mats Rudemo (Institutionen för matematiska vetenskaper, matematisk statistik)
Journal of Microscopy (0022-2720). Vol. 253 (2014), 2, p. 166-170.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

In this study, we investigate the functional behaviour of the intensity in high-angle annular dark field scanning transmission electron micrograph images. The model material is a silica particle (20 nm) gel at 5 wt%. By assuming that the intensity response is monotonically increasing with increasing mass thickness of silica, an estimate of the functional form is calculated using a maximum likelihood approach. We conclude that a linear functional form of the intensity provides a fair estimate but that a power function is significantly better for estimating the amount of silica in the z-direction. The work adds to the development of quantifying material properties from electron micrographs, especially in the field of tomography methods and three-dimensional quantitative structural characterization from a scanning transmission electron micrograph. It also provides means for direct three-dimensional quantitative structural characterization from a scanning transmission electron micrograph.

Nyckelord: Likelihood, mass thickness, scanning transmission electron microscopy, structural characterization, TOMOGRAPHY



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2014-03-10. Senast ändrad 2016-03-21.
CPL Pubid: 194748

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi (2005-2014)
SuMo Biomaterials
Institutionen för teknisk fysik, Eva Olsson Group (2012-2015)
Institutionen för matematiska vetenskaper, matematisk statistik (2005-2016)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Fysik

Chalmers infrastruktur