CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Preparation of TEM specimens from fragile oxide films using focused ion beam (FIB)

Johan Angenete (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Krystyna Stiller (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Henrik Svensson (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM-15) (2002)
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-28.
CPL Pubid: 1944

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys (1997-2004)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur