CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Defect studies in MBE grown GaSbBi layers

N Segercrantz ; J Kujala ; F Tuomisto ; J Slotte ; Yuxin Song (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Shumin Wang (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
27th International Conference on Defects in Semiconductors 2013, Bologna, Italy, 2013 (2013)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2014-01-16.
CPL Pubid: 192689

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur