CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Probe fabrication for a scanning single-electron-transistor

Henrik Brenning (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 2004. - 69 s. s.
[Licentiatavhandling]

Nyckelord: scanning SET, SET, charging energy, fabrication yield, scanning probe, cantilever, nano fabrication



Denna post skapades 2014-01-03.
CPL Pubid: 190976

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Nanoteknik

Chalmers infrastruktur