CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Experimental study of Electrical properties and stability of CNT bumps in high density interconnects

Yan Zhang ; Yingjie Zhou ; Jingyu Fan ; Di Jiang (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem) ; Yifeng Fu ; Shiwei Ma ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem)
Proceedings of the 13th IEEE International Conference on Nanotechnology p. 1085-1088. (2013)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2013-12-30. Senast ändrad 2014-03-18.
CPL Pubid: 190663

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem (2007-2015)

Ämnesområden

Nanovetenskap och nanoteknik
Produktion
Nanoteknik

Chalmers infrastruktur