CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Experiment design for quick statistical FET large signal model extraction

Iltcho Angelov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Mattias Ferndahl (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Marcus Gavell (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Gustavo Avolio ; Dominique M M P Schreurs
81st ARFTG Microwave Measurement Conference: Metrology for High Speed Circuits and Systems, ARFTG 2013 (2013)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Process variations influence the accuracy of designs and yield in production. This paper addresses the implementation of these variations in large signal FET models, with particular attention on the organization of measurements as to speed up the direct extraction of the model parameters. © 2013 IEEE.

Nyckelord: FET, Large Signal Models, Statistical Models



Denna post skapades 2013-12-12.
CPL Pubid: 189015

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur