CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A bonded silicon material

Mikael Johansson (Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 2001. - vi, 43 s. s.

Nyckelord: losses, attenuation, crosstalk, depletion, high-frequency, substrate coupling, relaxation frequency, skin-effect

Denna post skapades 2013-12-05.
CPL Pubid: 188464


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik (1997-2003)



Chalmers infrastruktur

Ingår i serie

Technical report L - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology. 402