CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

On logic test generation : algorithms and methods for combinational test generation

Hans Kristian Wiklund (Institutionen för datorteknik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 2000. ISBN: 993-257304-3.- 76 s.
[Licentiatavhandling]

Nyckelord: ATPG, switchh level, bridging faults, feedback, binary decision diagrams, testability



Denna post skapades 2013-11-28.
CPL Pubid: 187598

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för datorteknik (1985-2001)

Ämnesområden

Datorteknik

Chalmers infrastruktur

Ingår i serie

Technical report L - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology. 346