CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

0.5-Tb/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelenght shifting in highly nonlinear fiber

J Li ; Mathias Westlund (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Henrik Sunnerud (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Magnus Karlsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
IEEE Photonic Technology Letters Vol. 16 (2004), p. 566-568.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-29. Senast ändrad 2014-09-02.
CPL Pubid: 1872

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur