CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Microwave characterization of Ti/Au-graphene contacts

Michael Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ) ; Andrei Vorobiev (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ) ; Jie Sun (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Avgust Yurgens (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Spartak Gevorgian (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ) ; Jan Stake (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik )
Applied Physics Letters (0003-6951). Vol. 103 (2013), 17, p. 173111.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

In this paper, we report on a microwave characterization of the interface between Ti/Au contacts and chemical vapor deposition graphene using structures of Corbino geometry, with primary focus on extracting and modeling the capacitance associated with the contact region. It is found that with the current contact resistivity, ρc∼10^−6 Ωcm2, the contact capacitance, on the order Cc∼1 μF/cm2, has a negligible effect on microwave transmission through the contact below ∼100 GHz. Finally, a parallel plate capacitance model for the contact is presented.

Nyckelord: Graphene, contact resistance, contact capacitance, microwave characterization



Denna post skapades 2013-10-25. Senast ändrad 2016-04-28.
CPL Pubid: 185656

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)