CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electrically active defects in metal-tunnel oxide-silicon (MTOS) devices

Per Lundgren (Institutionen för fasta tillståndets elektronik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 1994. ISBN: 992-052686-x.- 23 s. s.
[Licentiatavhandling]

Nyckelord: MOS, MTOS, tunneling, PMA



Denna post skapades 2013-09-06. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 182879

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur