CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Atom-probe microanalysis of the AuGe/GaAs interface

Anders Kvist (Fysiska institutionen)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 1993. ISBN: 991-661743-0.- 16 bl. : s.
[Licentiatavhandling]

Nyckelord: ohmic contact, microstructure, atom-probe field-ion microscopy, AuGe, GaAs, interface, diffusion



Denna post skapades 2013-08-13.
CPL Pubid: 181143

 

Institutioner (Chalmers)

Fysiska institutionen (1964-2000)

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur