CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Charge carrier injection into the buried oxide of wafer bonded silicon-on-insulator materials

Stefan Bengtsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; Per Ericsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; K Mitani ; Takao Abe
Proc. 6th International Symposium on Silicon-On-Insulator Technology and Devices. The Electrochemical Society. Vol. 94 (1994), 11, p. 245.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-09-19. Senast ändrad 2015-02-11.
CPL Pubid: 17820

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur