CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Leakage current and capacitance characteristics of Si/SiO2/Si single-barrier varactor

Mamor Mamor ; Ying Fu (forskargrupp för fysikalisk elektronik och fotonik) ; Omer Nur ; Magnus Willander ; Stefan Bengtsson (Institutionen för mikroelektronik)
Applied Physics A-Materials Science & Processing Vol. 72 (2001), 5, p. 633-637.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-28. Senast ändrad 2015-02-11.
CPL Pubid: 17745

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

forskargrupp för fysikalisk elektronik och fotonik (1997-2004)
Institutionen för mikroelektronik (1995-2003)

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur