CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials

Bengt Edholm ; Anders Soderbarg ; Stefan Bengtsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik)
Journal Of The Electrochemical Society Vol. 143 (1996), 4, p. 1326-1334.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-09-19. Senast ändrad 2015-02-11.
CPL Pubid: 17728

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur