CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Charge-Carrier Injection Into The Buried Oxide Of Wafer-Bonded Silicon-On-Insulator Materials

Stefan Bengtsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; Per Ericsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; Ulf Södervall (Institutionen för fysik) ; K. Mitani ; T. Abe
Journal Of The Electrochemical Society Vol. 142 (1995), 8, p. 2721-2726.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-09-19. Senast ändrad 2015-02-11.
CPL Pubid: 17725

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)
Institutionen för fysik (1900-2003)

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur