CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electrical Methods For Characterizing Directly Bonded Silicon Silicon Interfaces

Stefan Bengtsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; Olof Engström (Institutionen för fasta tillståndets elektronik)
Japanese Journal Of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers Vol. 30 (1991), 2, p. 356-361.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-09-19. Senast ändrad 2015-02-11.
CPL Pubid: 17724

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur