CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Quantitative applications of secondary ion mass spectrometry : solid-state diffusion and mass fractionation studies

Ulf Södervall (Institutionen för fysik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 1991. ISBN: 91-7032-631-2.- [4], 44 s. : s.

Nyckelord: Secondary ion mass spactromy (SIMS), ionazion mechanisms, mass fractionation, diffusion, isotope effects, activation parameters, elemental semiconductors, high pressure, isotopic ratios

Denna post skapades 2013-04-26. Senast ändrad 2013-09-25.
CPL Pubid: 176221


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fysik (1900-2003)



Chalmers infrastruktur

Ingår i serie

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie 819