CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

MOSFET degradation and hot electron modeling

Anders T. Dejenfelt (Institutionen för fasta tillståndets elektronik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 1991. ISBN: 91-7032-558-8.
[Doktorsavhandling]

Nyckelord: hot-electron degradation effects, direct integration method, Coulumb scattering, spatially dependent direct integration



Denna post skapades 2013-04-24. Senast ändrad 2013-09-25.
CPL Pubid: 176086

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)

Ämnesområden

Data- och informationsvetenskap

Chalmers infrastruktur

Ingår i serie

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie 789


Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden 208