CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Transmission electron microscopy of InGa1-As/GaAs strained-layer structures

Ji-Yong Yao (Institutionen för fysik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 1990. ISBN: 91-7032-510-3.- 71 s. : s.
[Doktorsavhandling]

Nyckelord: Microstructures, Interfacial morphologies, argon ions



Denna post skapades 2013-04-24. Senast ändrad 2013-09-25.
CPL Pubid: 176028

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fysik (1900-2003)

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur

Ingår i serie

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie 750