CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Atom probe tomography of oxide scales

Krystyna Stiller (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; Leif Viskari (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; Gustav Sundell (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; Fang Liu (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; Mattias Thuvander (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur ) ; DJ Larson ; T Prosa ; D Reinhard
Oxidation of Metals (0030-770X). Vol. 79 (2013), p. 227-238.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: atom probe tomography; oxides; microstructure; atomic scale



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2013-03-25. Senast ändrad 2016-02-04.
CPL Pubid: 174999

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Materialens mikrostruktur (2012-2015)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Korrosionsteknik

Chalmers infrastruktur