CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

On the implementation of device processing tolerances in FET Large Signal Models

Iltcho Angelov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Mattias Ferndahl (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Marcus Gavell (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
2012 Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMIC 2012 (2012)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Device technology is becoming quite mature and repeatable, but nevertheless, for various reasons, there are statistical variations in device parameters. These process variations will influence the accuracy of the designs and yield in production. The implementation of these variations in Large Signal Models is discussed in the paper.

Nyckelord: FET, Large Signal Models, Statistical Models



Denna post skapades 2012-12-04. Senast ändrad 2012-12-12.
CPL Pubid: 167055

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur