CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Influence of waveguide width errors on TRL and LRL calibrations

Jörgen Stenarson (GigaHertz Centrum) ; Klas Yhland (GigaHertz Centrum) ; Thi Do Thanh Ngoc (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ; GigaHertz Centrum) ; Huan Zhao (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ; GigaHertz Centrum) ; Peter Sobis (GigaHertz Centrum) ; Jan Stake (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik ; GigaHertz Centrum)
79th Automatic RF Techniques Microwave Measurement Conference (ARFTG) (2012)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

This paper investigates the impact of the waveguide width tolerance in TE10 mode waveguide TRL/LRL calibration kits. This is important for vector network analyzer measurements in the THZ range where waveguide tolerances become large compared the wavelength and to cross sectional dimensions. Besides causing reflections in the waveguide interface, the waveguide width tolerance also causes a change in the propagation constant that can shift the reference planes and cause problems in estimating the propagation constant of the Line standard. We conclude that the tolerances may cause a significant uncertainty contribution and may limit the useful band of the calibration kit.

Nyckelord: TRL, LRL, waveguide, VNA, calibration, S-parameters, uncertainty


IMS 2012, 22 June 2012 Montréal, Québec, Canada.



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2012-06-18. Senast ändrad 2015-07-28.
CPL Pubid: 159083

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)