CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Automated Correction of Linear Deformation due to Sectioning in Serial Micrographs

Thomas Jansson ; Tomas Gustavsson (Institutionen för tillämpad elektronik, Digitala bildsystem och bildanalys) ; Martin Rydmark ; C.H. Berthold ; R. Pascher ; T. Skoglund
Journal of Microscopy Vol. 177 (1995), p. 119-127.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Special issue on Confocal and Near-Field Microscopy and 3D Image Processing



Denna post skapades 2006-09-12. Senast ändrad 2011-01-20.
CPL Pubid: 15719

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för tillämpad elektronik, Digitala bildsystem och bildanalys (1980-1997)

Ämnesområden

Information Technology

Chalmers infrastruktur