CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Reliability of Microtechnology – Interconnects, Devices and Systems

Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem) ; Olli Salmela ; Jussi Särkkä ; James E. Morris ; Per-Erik Tegehall ; Cristina Andersson
USA : Springer publisher, 2011. ISBN: 978-1-4419-5759-7.
[Bok]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-12-26.
CPL Pubid: 150941

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem (2007-2015)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Nanovetenskap och nanoteknik
Elektronik

Chalmers infrastruktur