CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Method for measuring reflectance of semiconductor disk laser gain element under optical pump excitation

Carl Borgentun (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Jörgen Bengtsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Anders Larsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), Baltimore, USA, 1-6/5 2011 (2011)
[Konferensbidrag, poster]

We present a new measurement method for measuring the spectral reflectance of a semiconductor disk laser gain element under optical pumping, providing valuable information on the spectral dependence of gain under close-to-normal operating conditions.

Nyckelord: Semiconductor laser, optically pumped semiconductor disk laser, vertical-external-cavity surface-emitting laser, reflectance


(c) 2011 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other users, including reprinting/ republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted components of this work in other works.



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-08-24. Senast ändrad 2016-04-11.
CPL Pubid: 144853

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Nanovetenskap och nanoteknik
Optik
Fotonik

Chalmers infrastruktur