CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Quantitative APT analysis of Ti(C,N)

Jenny Angseryd (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Fang Liu (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Stephan S A Gerstl ; Mattias Thuvander (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Ultramicroscopy (0304-3991). Vol. 111 (2011), 6, p. 609-614.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-03-16. Senast ändrad 2015-03-30.
CPL Pubid: 138058

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Spektroskopi
Övrig bearbetning/sammanfogning

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Microstructure of a cubic boron nitride tool material and its degradation during hard turning operations