CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Conductive in situ TEM nanoindentation with a new MEMS sensor

Alexandra Nafari (Extern ; Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem) ; J. Angenete ; Krister Svensson ; Anke Sanz-Velasco (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem) ; Peter Enoksson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem)
MicroStructureWorkshop (MSW), Stockholm, Sweden (2010)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-01-17.
CPL Pubid: 134264

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem (2007-2015)

Ämnesområden

Produktion
Transport
Elektroteknik och elektronik
Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur