CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Kelvin Probe Force Microscopy Study of LaAlO3/SrTiO3 Heterointerfaces

Vladimir Popok ; Alexei Kalaboukhov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Robert Gunnarsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Tillämpad kvantfysik) ; Segey Lemeshko ; Tord Claeson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Dag Winkler (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap)
Journal of Advanced Microscopy Research (2156-7573). Vol. 5 (2010), 1, p. 26-30.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Surface potential distributions in ultra-thin (0.8-3.9 nm) LaAlO3 layers deposited on SrTiO3 substrates are studied. It is found that the potential distribution evolves from island-like to a homogeneous one with increasing LaAlO3 thickness. It is suggested that the observed islands are caused by a locally enhanced concentration of mobile charge carriers at the interface that is, in turn, related to non-stoichiometry of the layers with thickness bellow 4 unit cells. Transition to a homogeneous potential distribution with increasing LAO thickness (≥4 unit cells) corresponds to the formation of a quasi-2-dimensional electron gas. The results agree with a percolation model explaining the insulator-to-metal transition that occurs at the LaAlO3/SrTiO3 heterointerface.

Nyckelord: Kelvin Probe Force Microscopy; LaAlO 3/SrTiO 3 Heterointerface

Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-01-16. Senast ändrad 2016-08-19.
CPL Pubid: 134164


Läs direkt!

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)