CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Dielectric response measurements during electrical treeing in sub-picofarad samples

Björn Sonerud (Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik) ; Tord Bengtsson ; Jörgen Blennow (Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik) ; Stanislaw Gubanski (Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik) ; Susanne Nilsson (Institutionen för kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi)
Polymer Testing (0142-9418). Vol. 30 (2011), 1, p. 43-49.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

A technique called Arbitrary Waveform Impedance Spectroscopy (AWIS) developed for measuring dielectric properties in insulating materials has been used to study capacitance and dielectric loss changes during electrical tree growth in LDPE samples. The sample capacitance is small, in the range of 0.1–0.15 pF, placing high demands on the measurement system. Simulations in FEM-software show that the measured capacitance is in agreement with simulated values and can be used to estimate tree growth rate. It also seems to be possible to differentiate between different regions of tree growth by analyzing changes in capacitance and loss of the studied samples.



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2011-01-10. Senast ändrad 2016-12-05.
CPL Pubid: 132730

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik (2005-2017)
Institutionen för kemi- och bioteknik, Teknisk ytkemi (2005-2014)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Innovation och entreprenörskap (nyttiggörande)
Elkraftteknik
Övrig teknisk materialvetenskap

Chalmers infrastruktur