CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Aging Investigation of NbN Hot Electron Bolometer Mixer

Pourya Khosropanah (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Vladimir Drakinskiy (Extern ; Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Sergey Cherednichenko (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Therese Berg (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
Proceedings of 16th International Symposium on Space THz Technology, Gothenburg, Sweden, May. 2005 (2005)
[Konferensbidrag, övrigt]

This work presents the aging investigation of NbN HEB mixers in usual lab conditions and also in high temperature and high relative humidity environment. A variety of devices have been fabricated using different combinations of resist (SAL), Si, SiO2 and SiN single and multi-layer for bolometer protection. In the accelerated aging tests the degradation is monitored by measuring the DC resistance of the devices during the test. The results show that using multi-layer protection increase the device lifetime significantly.

Nyckelord: NbN, thin films, HEB mixer, Herschel



Denna post skapades 2006-08-29.
CPL Pubid: 12580

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur