CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Non-destructive microwave characterization of ferroelectric films on conductive substrates

Pär Rundqvist (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Andrei Vorobiev (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Spartak Gevorgian (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Khaled Khamchane (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik)
Integrated Ferroelectrics Vol. 60 (2004), p. 1-19.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-29. Senast ändrad 2014-09-02.
CPL Pubid: 12413