CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Interfaces between 4H-SiC and thermally grown SiO2: Microstructure, nanochemistry, and near-interface traps

E. Pippel ; J Woltersdorf ; Halldór Örn Ólafsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Einar Sveinbjörnsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
Journal of Applied Physics Vol. 97 (2005), p. 034302.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-29.
CPL Pubid: 12211

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Ytor och mellanytor

Chalmers infrastruktur