CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Si-wedge for easy TEM sample preparation for in situ probing

Alexandra Nafari (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Peter Enoksson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Håkan Olin
Eurosensors Vol. XIX (2005), p. WPa32.
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Nyckelord: TEM, sample preparation, Si-wedge



Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 12132

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)

Ämnesområden

Övrig elektroteknik, elektronik och fotonik

Chalmers infrastruktur