CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

SEM investigation of reactive element particles on the surface of Kanthal AF oxidized at 900°C

Fang Liu (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Helena Josefsson (Institutionen för kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi) ; Jan-Erik Svensson (Institutionen för kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi) ; Lars-Gunnar Johansson (Institutionen för kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi) ; Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
16th International Corrosion Congress, September 19-24 2005, Beijing, China p. Paper 19-22. (2005)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2006-01-19.
CPL Pubid: 11851

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)
Institutionen för kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi (2005-2014)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur