CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Surface roughness of GaN and thin AlGaN layers grown by molecular beam epitaxy

Xinyu Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Thorvald Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
applied surface science Vol. 226 (2004), p. 331.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2006-08-29.
CPL Pubid: 11730

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur