CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Reliability analysis of embedded chip technique with design of experiment methods

Xiuzhen Lu ; Liu Chen (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Zhaonian Cheng ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik)
2005 International Symposium on Electronics Materials and Packaging p. pp43-49. (2005)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 11685

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur