CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A General Weibull Model For Reliability Analysis Under Different Failure Criteria –Application on Anisotropic Conductive Adhesive Joining Technology

Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Liqiang Cao (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Min Xie ; Thong-Ngee Goh ; Yong Tang
IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing (TEPM) Vol. 28 (2005), 4, p. 322-327.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 11517

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur