CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Importance of ITO surface conditions for the interaction with thin CuPc layers

Måns Andreasson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Maria Tengelin-Nilsson (Institutionen för teknisk fysik, Kondenserade materiens elektronstruktur) ; Thorvald Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Lars Ilver (Institutionen för teknisk fysik, Kondenserade materiens elektronstruktur) ; Janusz Kanski (Institutionen för teknisk fysik, Kondenserade materiens elektronstruktur)
Organic electronics (1566-1199). 6, p. 175-181. (2005)
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: CuPc, ITO, UPS



Denna post skapades 2007-01-09. Senast ändrad 2010-09-09.
CPL Pubid: 11449

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Institutionen för teknisk fysik, Kondenserade materiens elektronstruktur (2005-2006)

Ämnesområden

Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Thermal evaporation of small molecules-A study of interfacial, bulk and device properties for molecular electronics


Small-molecule layers for devices -Evaporation growth and characterization of thin films